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IM3570 阻抗分析仪

日本日置(HIOKI) IM3570 阻抗分析仪(4Hz~5MHz)

产品名称: 阻抗分析仪(4Hz~5MHz) 产品型号: IM3570
品牌: HIOKI/日本日置 (共有 150 个同品牌产品) 产地: 日本
市场价: .00 准测价: .00
保修期: 供货期:
外形尺寸: mm 重量: kg
产品描述: 测试模式:LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量,测量频率:4Hz ~5MHz ,基本精度:Z : ±0.08%rdg. θ: ±0.05° ,测量信号:5mV~5V,10μA~50mA,测量时间:0.5ms(100kHz)的高速测量
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日本日置(HIOKI)
品牌介绍
日置电机株式会社(HIOKI)自1935年成立以来,经过不断地发展壮大,现已确立了在先进测试测量工艺技术研发及制造领域的国际性重要地位,并于2013年12月在东京证券第一部上市。主要从事电气测量仪的研究开发、制造、销售以及校准、售后服务等。近年进一步实现了技术、制造、销售一体化体系,并开发了光、通信、环境测量等新领域。HIOKI的目标是,在保护自然环境的前提下,促进社会的发展,成为值得信赖的企业。
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产品描述
HIOKI IM3570 阻抗分析仪
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
HIOKI IM3570 阻抗分析仪基本参数
型号 IM3570
测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1
HIOKI IM3570 阻抗分析仪选件
探头和测试冶具 4端子探头L2000(DC~5MHz,1m)
测试冶具 9262(DC~5MHz,直接连接型)
测试冶具 9263(DC~5MHz,直接连接型)
SMD测试冶具 9677(DC~120MHz,直接连接型)
SMD测试冶具 9699(DC~120MHz,直接连接型)
PC通讯 GP-IB连接线 9151-02(2m)
打印机 打印机 9670
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