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IM3536 LCR测试仪 |
| DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品 |
- 测量频率DC，4Hz~8MHz
- 测量时间：最快1ms
- 基本精度：±0.05% rdg
- 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
- 可内部发生DC偏压测量
- 从研发到生产线活跃在各种领域中
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主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。 |
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| 基本参数 |
| 型号 |
IM3536 |
| 测量模式 |
LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
测量参数 |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 |
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 |
[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 |
发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 |
通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 |
彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 |
比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 |
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 |
330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 |
电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
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| 选件 |
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探头·治具
SMD测试治具IM9100：直接连接型，底部有电极SMD用，DC~8MHz，可测量样品尺寸：0402~1005(JIS)
4端子测试探头 9140：DC~100kHz, 1m长
测试治具9261-10：线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试冶具 9262：DC~8 MHz, 直结型
SMD测试冶具 9263：直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置电压单元 9268-10：直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10：直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10：线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677：用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699：用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
前端探针IM9901：用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
前端探针IM9902：用于更换L2001的前端的小型尺寸
4端子探头L2000：DC~5MHz，1m长
镊形探头L2001：线长73cm，DC~8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3~6mm
PC通讯
GP-IB连接电缆 9151-02：2m长
RS-232连接线 9637： 9pin-9pin 线缆, 交叉线缆，1.8m长 |
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