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IM3536 LCR测试仪 |
DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品 |
- 测量频率DC,4Hz~8MHz
- 测量时间:最快1ms
- 基本精度:±0.05% rdg
- 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
- 可内部发生DC偏压测量
- 从研发到生产线活跃在各种领域中
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主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。 |
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基本参数 |
型号 |
IM3536 |
测量模式 |
LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量) |
测量参数 |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
测量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定) |
显示范围 |
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ) |
测量频率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
测量信号电平 |
[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定 |
DC偏压 |
发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
输出阻抗 |
通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
显示 |
彩色TFT5.7英寸,触摸屏 |
功能 |
比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
接口 |
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
体积及重量 |
330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 |
电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1 |
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选件 |
探头·治具
SMD测试治具IM9100:直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子测试探头 9140:DC~100kHz, 1m长
测试治具9261-10:线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试冶具 9262:DC~8 MHz, 直结型
SMD测试冶具 9263:直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置电压单元 9268-10:直接连接型,40Hz~8MHz,最大外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10:直接连接型,40Hz~2MHz,最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10:线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探针IM9901:用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
前端探针IM9902:用于更换L2001的前端的小型尺寸
4端子探头L2000:DC~5MHz,1m长
镊形探头L2001:线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm
PC通讯
GP-IB连接电缆 9151-02:2m长
RS-232连接线 9637: 9pin-9pin 线缆, 交叉线缆,1.8m长 |
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