4ch同时测量大幅提高生产效率 |
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HIOKI这次发售了高阻计SM7420。
SM7420是用于评估和检查智能手机、混动电动汽车中的电子元件性能的4ch测试仪器。而且,和我司之前的DSM-8542相比,检查速度提高了1倍,测量的再现性和抗干扰性都有大幅提升,因此能大大的提高评估和检查的效率。 |
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开发的背景 |
随着智能手机、可穿戴设备、混动电动汽车(HV/HEV)等的普及,叠层陶瓷电容器、共模滤波器和SAW滤波器等电子元件市场也进一步扩大。在生产过程中需要测量这类电子元件的绝缘电阻值,并对其性能进行评估。
对于进行批量生产的厂家,如何大量并迅速的进行测量变得尤为重要。而且,由于汽车中所用的电容等元件都朝着高耐压方向发展,在掌握其性能时就会需要测量高压输出的绝缘电阻。 HIOKI为了满足此类生产厂家需求,着力开发了是以往产品的2倍测量速度的测量仪器。 |
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主要用途 |
● 电子元件(层陶瓷电容器、共模滤波器和SAW滤波器等)的性能评估 |
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产品特点 |
- 实现4ch测量
电子元件生产中,为了提高产量,有时需要并列同时测量多通道,SM7420继承了之前机型DSM-8542的优点,可以进行4ch的绝缘测量。
※用于测量的电源需要另外准备。
- 检查速度是以往机型的2倍,缩短了检查时间。
最快检查时间是6.7ms(0.0067秒),和以往机型的检查速度相比提高了1倍。由于缩短了检查时间,因此生产效率也会提升。
- 通过改善测量的再现性和抗干扰性,提高生产效率
和以往机型相比,测量的再现性和抗干扰性有大幅提升。在同一条件下进行反复测量时,测量值的变化程度降低为通常测量时的1/60。而且,混入50V干扰时,最小能达到1/300,降低了变化幅度。
这样,通过增强测量的稳定性,从而提高检查的效率。
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上述内容为发售当日的信息。之后可能会有参数等变更的情况,请了解。 |